电镀层厚度如何测量？铜基镍镀层，除荧光光谱仪、电解测厚仪外有没有其它仪器可测量？ 铜基材上电镀铜层厚度怎么样测量测量
德国Compact eco X-射线荧光分析测厚仪
Compact eco X-射线荧光分析测厚仪能提供一般镀层厚度和元素分析功能,不单性能优越,而且价钱超值.,分析镀层厚度和元素成色同时进行,只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果,甚至是多层镀层的样品也一样能胜任. 轻巧的样品室,适合不同大小的样品,功能实用,准确性高,是五金电镀,首饰,端子等行业的首选. 备有Compact eco , Compact 5 , Mixx4 , Mixx5等型号选择，可测量各类金属层、合金层厚度，附带功能：合金成份分析，电镀液成份分析，中文简体、繁体、英文操作系统。
可测元素范围：
钛(Ti) – 铀(U)
可测量厚度范围：
原子序22-25，0.1-0.8μm
26-40，0.05-35μm
43-52，0.1-100μm
72-82，0.05-5μm
自动测量功能：编程测量，自定测量
修正测量功能：底材修正，已知样品修正
定性分析功能：光谱表示，光谱比较
定量分析功能：合金成份分析
数据统计功能：x管理图，x-R管理图，直方柱图。
综合性能:镀层分析 定性分析 定量分析 镀液分析
镀层分析:可分析三层厚度,独有的FP分析软件,真正做到无厚度标准片亦能进行准确测量(需要配合纯材料),为您大大节省购买标准片的成本.完全超越其他品牌的所谓FP软件.
镀液分析:可分析镀液的主成份浓度(如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等),简单的核对方式,无需购买标准药液.
定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量.
光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度.
统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,方便有效的控制品质.
韩国Micro Pioneer XRF-2000 系列荧光金属镀层测厚仪
Micro Pioneer XRF-2000 系列荧光金属镀层测厚仪能提供金属镀层厚度的测量,同时可对电镀液进行分析,不单性能优越,而且价钱超值.只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果,甚至是多层镀层的样品也一样能胜任.全自动XYZ样品台,镭射自动对焦系统,十字线自动调整.超大/开放式的样品台,可测量较大的产品.是线路板,五金电镀,首饰,端子等行业的首选.可测量各类金属层、合金层厚度.
可测元素范围：
钛(Ti) – 铀(U)
可测量厚度范围：
原子序22-25，0.1-0.8μm
26-40，0.05-35μm
43-52，0.1-100μm
72-82，0.05-5μm
X-射线管：油冷,超微细对焦
高压：0-50KV(程控)
准直器：
固定种类大小:可选0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm
自动种类大小:可选0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm
电脑系统：IBM相容,17”显示器
综合性能:镀层分析 定性分析 定量分析 镀液分析
镀层分析:可分析单层镀层,双层镀层,三层镀层, 合金镀层.
镀液分析:可分析镀液的主成份浓度(如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等),简单的核对方式,无需购买标准药液.
定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量.
光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度.
统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,方便有效的控制品质.
除了荧光光谱仪和电解测厚仪，还有一些其他的仪器可以用于测量铜基镍镀层的厚度，包括：
光学显微镜：光学显微镜可以观察样品表面的涂层情况，通过观察涂层的颜色、光泽度等方面来判断涂层的厚度。
扫描电子显微镜：扫描电子显微镜可以观察样品表面的涂层情况，具有高分辨率和高放大倍数等特点，可以精确测量涂层的厚度。
机械式测厚仪：机械式测厚仪是一种通过物理接触来测量涂层厚度的仪器，它具有简单、便携、经济等优点，但精度相对较低。
电容式测厚仪：电容式测厚仪是一种利用电容原理来测量涂层厚度的仪器，它适用于测量导电材料上的非导电涂层厚度，但精度受多种因素影响。
总的来说，根据具体的测量需求和样品特点，可以选择合适的仪器进行铜基镍镀层的厚度测量。
涂层测厚仪
——涂层测厚仪是测量各种金属材料上的油漆层、氧化层、镀层等。
磁性测厚仪的工作原理：当测头与覆盖层接触时，测头和磁性金属基体构成一闭合磁路，由于非磁性覆盖层的存在，使磁路磁阻变化，通过测量其变化可导出覆盖层的厚度。
涡流测厚仪的工作原理：高频交流信号在测头线圈中产生电磁场，测头靠近导体时，就在其中形成涡流。测头离导电基体愈近，则涡流愈大，反射阻抗也愈大。这个反馈作用量表征了测头与导电基体之间距离的大小，也就是导电基体上非导电覆层厚度的大小。
涂层测厚仪
——涂层测厚仪是测量各种金属材料上的油漆层、氧化层、镀层等。
磁性测厚仪的工作原理：当测头与覆盖层接触时，测头和磁性金属基体构成一闭合磁路，由于非磁性覆盖层的存在，使磁路磁阻变化，通过测量其变化可导出覆盖层的厚度。
涡流测厚仪的工作原理：高频交流信号在测头线圈中产生电磁场，测头靠近导体时，就在其中形成涡流。测头离导电基体愈近，则涡流愈大，反射阻抗也愈大。这个反馈作用量表征了测头与导电基体之间距离的大小，也就是导电基体上非导电覆层厚度的大小。
http://www.testmart.cn/ProductFile/Html/CN/2004/8/26/645d1330-3f3d-4d9c-ac87-6807717b55d9.html
铜基镍镀层厚度一般在日常工作中用金相分析仪测量.就是我们俗话说的切片.
现在刚出来一款进口的捷克诺顿K6C配PH探头，专门无损测量金属基体上镀镍层，我们厂子买了3台，挺准的，希望我的建议对您有用
测量电镀层厚度什么仪器检测~
有高精度的涂层测厚仪可以检测电镀层
我们用的中科朴道的PD-CT2 plus涂层测厚仪，这款仪器误差很小，我们3个微米的电镀锌都可以检测，还能测镀锌量。
同时镀层的厚度
电镀层厚度如何测量?铜基镍镀层,除荧光光谱仪、电解测厚仪外有没有其...
答：镀层分析:可分析三层厚度,独有的FP分析软件,真正做到无厚度标准片亦能进行准确测量(需要配合纯材料),为您大大节省购买标准片的成本.完全超越其他品牌的所谓FP软件.镀液分析:可分析镀液的主成份浓度(如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等),简单的核对方式,无需购买标准药液.定性定量分析:可定性...
镀层厚度测量有哪几种方法,各自具备哪些优缺点?
答：常见的几种测量镀层厚度的方法包括以下几种：1. X射线荧光法：该方法利用X射线照射被测样品，测量其发射的荧光信号来确定镀层厚度。优点是精度高、可广泛应用于不同种类的镀层材料；缺点是需要使用辐射源，并且对人体有一定的安全风险。2. 磁感应法：该方法使用电磁铁制造磁场，通过磁感应原理来测量镀层...
涂层测厚仪测量厚度方法具体有那些?
答：1、磁性测厚法。适用导磁材料上的非导磁层厚度测量。导磁材料一般为：钢\铁\银\镍。此种方法测量精度高。2、涡流测厚法。适用导电金属上的非导电层厚度测量，此种方法较磁性测厚法精度低。3、超声波测厚法。国内还没有用此种方法测量涂镀层厚度的，国外个别厂家有这样的仪器，适用多层涂镀层厚度...
请教关于电镀层的问题: 如何利用化学药剂测量电镀层的厚度?_百度...
答：使用可以溶解镀层的药品，如镀铬层用1:1盐酸、镀镍层用防染盐等，计算工件的电镀面积，称量溶解的镀层的重量，镀层厚度=镀层重量/（镀层金属的密度*镀层面积）
镀层测厚仪测量原理与仪器
答：磁感应测厚仪则是通过测量磁通或磁阻的变化来确定覆层厚度。对于导磁基材上的非导磁覆层，如钢上镀镍，要求基材和覆层的导磁率差异大。随着技术进步，现代磁感应测厚仪精度显著提高，可达0.1um分辨率，量程达10mm，适用于多种金属镀层及防腐涂层的测量。电涡流测厚仪则利用高频信号在测头线圈中产生的...
如何选定合适的标准片来测量电镀?
答：一、厚度测量 厚度测量有三种常用方法 1、X荧光测厚法(XRF法)。2、库仑测厚法。3、切片显微测厚法 X荧光测厚法 1、原理:在X射线照射下,各种金属原子会激发出特征波长的X射线,特征X射线的强度在一定厚度范围内与该金属镀层厚度存在定量关系。2、使用仪器:X荧光测厚仪 3、测量步骤:a、根据样品特性...
问一下大家,想测镀镍层厚度,用什么样的镀层测厚仪比较好?
答：该仪器采用磁性、涡流两用原理进行测量，能够快速、无损伤、精密地测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性覆盖层的厚度及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆盖层的厚度和重量(如:橡胶、油漆、塑料、阳极氧化膜等)。磁感应测量原理 采用磁感应原理时，利用从测头经过非铁磁...
镀层测厚仪和涂层测厚仪有区别吗?涂层测厚仪可以测量镀层吗?
答：测量范围：由于镀层通常较薄，因此镀层测厚仪的测量范围通常较小，一般在几微米到几十微米之间。而涂层测厚仪的测量范围则相对较广，一般在几微米到几百微米之间。适用材料：镀层测厚仪适用于金属材料表面的镀层测量，如铜、镍、铬等。而涂层测厚仪则适用于非金属材料表面的涂层测量，如塑料、木材、...
电镀镀层用什么来测量
答：铂金产品中的铂、钯、铜、镍等等）只需3分钟左右；第三，精度高，准确度好，完全能够满足黄（铂）金检测的要求；第四，自动化程度高，由于现代电子计算机技术应用到能量色散X射线光谱仪中，使得用户只需放置样品，简单按动几个键，即可以得出检测结果。当然，能量色散X射线光谱仪也有它的局限性。从使用...
金属材料表面氧化膜厚度怎么测最精确
答：库仑法：适合测量单层和多层金属覆盖层厚度阳极溶解库仑法，包括测量多层体系，如Cu/Ni/Cr以及合金覆盖层和合金化扩散层的厚度。不仅可以测量平面试样的覆盖层厚度，还可以测量圆柱形和线材的覆盖层厚度，尤其适合测量多层镍镀层的金属及其电位差。测量镀层的种类为Au、Ag、Zn、Cu、Ni、dNi、Cr。X-ray ...
